Percorrer por autor Parbrook, Peter
Mostrar resultados 1-1 de 1.
Data | Título | Autor(es) | Tipo | Acesso |
2013 | Characterisation of III-nitride materials by synchrotron X-ray microdiffraction reciprocal space mapping | Kachkanov, Vyacheslav; Dolbnya, Igor; O'Donnell, Kevin; Lorenz, Katharina; Pereira, Sergio; Watson, Ian; Sadler, Thomas; Li, Haoning; Zubialevich, Vitaly; Parbrook, Peter | article | |