A CMOS signal to noise measurement circuit for infrared sectored receivers

Abstract

This paper describes a circuit able to measure Signal to Noise ratios developed for Infrared applications. The Signal to Noise ratio is of major importance in IR Sectored Receivers because it provides the basis of selection or combining of signals coming from different optical sectors. This circuit estimates the ratio of the average optical signal sensed in the photo-detector and the average noise power present in the same photo-detector, with a 50dB output dynamic range.

Este artigo descreve um circuito capaz de medir a Relação Sinal Ruído em sistemas de comunicação por Infravermelhos. A relação Sinal Ruído desempenha um papel fundamental em Receptores Sectorizados por IR, pois é necessária para métodos de selecção ou combinação dos sinais vindos dos diferentes sectores ópticos. O circuito aqui descrito é capaz de estimar a razão entre a potência média do sinal adquirido pelo fotodetector e a potência de ruído presente no mesmo, apresentando uma gama dinâmica de 50dB.