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http://hdl.handle.net/10773/29594
Title: | Test of integrated optical circuits for PON networks |
Other Titles: | Teste de circuitos óticos integrados para redes PON |
Author: | Arantes, João Paulo Gomes |
Advisor: | Lima, Mário José Neves de Rodrigues, Francisco |
Keywords: | Photonic Integrated Circuit (PIC) PIC testing PON |
Defense Date: | Dec-2019 |
Abstract: | For the last two decades, the Internet has been target of a technological
revolution. The amount of new services and applications that came up with
this revolution demanded the search to obtain more bandwidth and bigger
data rates. The only technologies capable of satisfying these conditions
are the optical communications. The current technology that is capable to
satisfying all these needs is the Passive Optical Network(PON). There are
some variations of this technology currently being used such as the GPON
and EPON. New evolutions of PON are being developed, such as the Next
Generation Passive Optical Network 2(NG-PON2) This technology multiplexes
different services into separated wavelengths, making its performance
more effective. One tool of great matter in this business is the Photonics Integrated
Circuit(PIC). The photonic integrated technology has been taking
over the conventional optical equipment because it allows the integration of
several functionalities into one single chip, saving space and energy. Having
in mind the objective of developping next generation optical communication
systems, the work presented in this document intends to test PIC in
way that they can be used in optical equipment, as for example the Optical
Line Terminal(OLT) which has functions of transmitter/receiver situated
at the operator's station, and the Optical Network Unit(ONU) situated at
the user's location. To make it possible for PIC to be integrated in optical
networks these must be tested in order to assure that they perform their
functions without any anomalies happening. For such reason, these PIC are
at our labs, read to be tested. This work, consisted of the execution of tests
to PIC as well as the optimization of the techniques and adequate procedures.
In the first place, it is presented an overview of optical networks and
PIC. Then the do's and dont's of testing PIC as well as the procedure and
preparations of these tests. At last, the tests to the PIC will be performed
which represents most of the work shown in this document. No decorrer das últimas duas décadas a Internet tem sofrido uma grande revolução. A quantidade de serviços e aplicações que surgiram desta revolução criaram a necessidade de obter mais largura de banda e maiores velocidades. As únicas tecnologias capazes de satisfazer estas condições são as comunicações óticas. A tecnologia que é usada atualmente para satisfazer todas estas necessidades é chamada de Passive Optical Network( PON). Existem algumas evoluções desta tecnologia a serem utilizadas atualmente, nomeadamente a GPON ou EPON. Novas evoluções de PON estão a ser desenvolvidas, nomeadamente a Next Generation Passive Optical Network 2(NG-PON2). Esta tecnologia multiplexa serviços diferentes em diferentes comprimentos de onda, tornando o seu desempenho mais eficaz. Um dispositivo de grande importância neste ramo são os Photonic Integrated Circuit(PIC). A tecnologia integrada tem vindo a substituir a ótica convencional, uma vez que possiblita a integração de varias funcionalidades óticas num único chip, poupando energia e espaço. Com o obectivo de desenvolver sistemas óticos de futura geração, este trabalho pretende testar PICs de maneira que estes possam ser integrados em equipamentos óticos, como por exemplo no Optical Line Terminal(OLT) com funções tais como transmissor/receptor situado na estacão da operadora de telecomunicações ou no Optical Network Unit(ONU) que se situa na localização do utilizador. Para possível integração dos PICs em redes óticas, estes deve ser testados de modo a garantir que todas as funções se realizem sem anomalias. Para tal, estes componentes encontram-se em teste nos nossos laboratórios. Estes trabalho, consistiu na realização de testes a circuitos integrados óticos, bem como a otimização das técnicas e procedimentos adequados para os mesmos. Em primeiro lugar, _e apresentado um resumo teórico acerca das redes óticas e PIC. De seguida, são apresentados cuidados de realização de testes, bem como procedimento de preparação dos mesmos. Por fim são realizados testes aos PIC que representam o maior volume em trabalho deste documento. |
URI: | http://hdl.handle.net/10773/29594 |
Appears in Collections: | UA - Dissertações de mestrado DETI - Dissertações de mestrado |
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