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 Cu3TeO6 ceramics and thick films: fabrication and characterization
Please use this identifier to cite or link to this item http://hdl.handle.net/10773/7360

title: Cu3TeO6 ceramics and thick films: fabrication and characterization
other titles: Cerâmicos e filmes espessos de Cu3TeO6: fabricação e caracterização
authors: Wang, Zhonghua
advisors: Vilarinho, Paula Maria
keywords: Engenharia de materiais
Materiais cerâmicos - Propriedades dieléctricas
Sinterização
Filmes espessos
Deposição electroforética
Cerâmica electrónica
issue date: 2010
publisher: Universidade de Aveiro
abstract: There has been an ever-growing demand for miniaturization in the electronic devices while keeping the high function density and low price. The ultimate solution is the low temperature co-firing ceramics (LTCC) technology. Targeting LTCC applications, the fabrication and dielectric properties of Cu3TeO6 thick films were studied in this thesis. The precursors were synthesized by the conventional solid state method. Copper oxide (CuO) and tellurium dioxide (TeO2) powders as starting materials with different stoichiometry were calcined at a series of temperatures. X-ray diffraction analysis of the products attest that CuTe2O5 and Cu3TeO6 were obtained as mono-phasic compounds for the CuO+2TeO2 and 3CuO+TeO2 compositions, respectively. Cu3TeO6 ceramics were well sintered at 865oC, showing a relative density of 93% and shrinkage of 29%. Sintering at higher temperature led to the decomposition of Cu3TeO6. The dielectric permittivity of the ceramics increased with the sintering temperature. The loss tangent and temperature coefficient of dielectric permittivity are very high, which do not meet the requirements of LTCC materials. Cu3TeO6 green films were fabricated by electrophoretic deposition (EPD). The thickness of green film increased rapidly with deposition time in the initial stage. The electric field exhibited a linear relationship with the thickness at fixed time. However, the quality of the films deteriorated under high voltages (>300V). Sintering of the films was carried out from 800oC to 860oC. The scanning electron microscopy (SEM) images of the film sintered at 860oC show a well densified microstructure. The Cu3TeO6 thick films exhibit poorer dielectric permittivity but lower loss tangent.

Tem havido uma procura crescente de miniaturização nos dispositivos eletrônicos, mantendo a função de alta densidade e baixo preço. A solução definitiva é a cerâmica de baixa temperatura de co-incineração (LTCC) tecnologia. Segmentação LTCC aplicações, a fabricação e as propriedades dielétricas de Cu3TeO6 filmes espessos foram estudados nesta tese. Os precursores foram sintetizados pelo método de reação no estado sólido convencional. Óxido de cobre (CuO) e dióxido de telúrio (TeO2) pós como matérias-primas, com diferentes estequiometrias foram calcinados a uma série de temperaturas. Raios-X difração dos produtos e atestar que CuTe2O5 e Cu3TeO6 foram obtidos como os compostos mono-fásica para o 2CuO+TeO2 e composições 3CuO+TeO2, respectivamente. Cerâmica Cu3TeO6 foram bem sinterizados a 865oC, apresentando uma densidade relativa de 93% e retração de 29%. Sinterização a altas temperaturas levaram à decomposição de Cu3TeO6. A permissividade dielétrica da cerâmica aumenta com a temperatura de sinterização. A tangente de perda eo coeficiente de temperatura da permissividade dielétrica são muito elevados, que não cumpram os requisitos de materiais LTCC.
description: Mestrado em Ciência e Engenharia dos Materiais
URI: http://hdl.handle.net/10773/7360
appears in collectionsCV - Dissertações de mestrado
UA - Dissertações de mestrado

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